正电子发射断层扫描参数成像的方法、系统、装置及介质

项目简介
技术简介：
专利类型：	发明	专利申请号：	CN202410652204.7	公开号：	CN118452960A
专利权人：	南方医科大学	发明设计人:	孙浩;崔筱平;胡德斌;黄衍超;吴惠琴;路利军
所属领域：
摘要：	本发明公开正电子发射断层扫描参数成像的方法、系统、装置及介质，包括：生成采集时段前的第一输入函数、采集时段内的第二输入函数和生成平均活度图像，根据平均活度图得到第一预测图像，若第一预测图像不满足条件，拼接第一输入函数和第二输入函数，得到第三输入函数，根据第三输入函数、第一预测图像、标签图像和乘性变量更新深度神经网络的权重参数，将平均活度图像输入更新后的深度神经网络，得到第二预测图像，若第二预测图像不满足条件，根据第二预测图像、标签图像和乘性变量更新标签图像和乘性变量，迭代若干次，直到第二预测图像满足预设条件，输出第二预测图像。本发明能提高短时间扫描参数成像的图像质量，应用于PET成像技术领域。
补充信息
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